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    Tektronix泰克DSA72004  20GHz 数字示波器

    泰克	Tektronix  /  示波器  /  时实示波器  /  Tektronix泰克DSA72004  20GHz 数字示波器
  • 属性:泰克 Tektronix  /  示波器  /  时实示波器
  • 型号:DSA72004
  • 时间:2023-6-30
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  • 货状态:现货
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  • 描述:
  • Tektronix泰克DSA72004  20GHz 数字示波器
  • 无与lun比的性能,可更深入地了解您的设计,从而更快地完成工作
    DPO70000 和 DSA70000 系列是新一代实时数字荧光示波器,是解决设计人员验证、表征、调试和测试复杂电子设计所面临的具有挑战性的信号完整性问题的业界zui佳解决方案。专用的 DSA70000 系列提供了完整的专用解决方案来应对高速串行设计的挑战。
    该系列具有出色的信号采集和分析性能、操作简单性和无与lun比的调试工具,可加速您的日常任务。业内zui大的屏幕和直观的用户界面让您可以轻松访问zui大量的信息。

    无与lun比的采集性能

    泰克示波器的信号保真度确保您对测量结果的信心
    高达 20 GHz 的高带宽匹配 2、3 或 4 个通道,并通过泰克专有的 DSP 增强功能实现。每个通道上的用户可选 DSP 滤波器提供幅度和相位校正以及带宽扩展至 20 GHz,以更准确地表示极快的信号。每个通道上的 DSP 滤波器也可以关闭,以利用真正的模拟带宽,用于需要zui高可用原始数据捕获的应用程序。
    探头jian端的带宽增强,扩展到支持带宽步长,为您提供带宽可调的示波器,以准确捕获转换,而不会产生过多的频率和噪声。
    所有型号、所有通道的高采样率,以捕获更多信号细节(瞬态、缺陷、快速边缘)
    12.5、16 和 20 GHz 型号的所有四个通道上均为 50 GS/s

    4、6 和 8 GHz 型号的所有四个通道上均为 25 GS/s
    zui低的抖动本底噪声和垂直精度,可实现非常精确的测量
    业界zui长的采集时间,提供更高的分辨率和更长的时序


    DPO70000 系列每通道标准 10 M 样本,DSA70000 系列每通道 20 M
    对于 4、6 和 8 GHz 型号,在所有四个通道上可选高达 100 M 样本
    对于 12.5、16 和 20 GHz 型号,在所有四个通道上可选高达 200 M 样本



    使用 MultiView Zoom 功能轻松管理这种深度记录长度,提供多个波形段的详细比较和分析。以视觉方式自动滚动深层记录,或创建数学表达式以立即突出显示差异
    具有针对差分和单端电压信号的探头jian端带宽增强的zui高性能探测解决方案,因为准确的设计验证取决于对关键信号的高带宽访问和高保真信号捕获
    Tektronix泰克DSA72004  20GHz 数字示波器特点与优势
    同时在所有四个通道上


    20、16、12.5、8、6 和 4 GHz 带宽型号
    高达 50 GS/s 的实时采样率
    高达 200 兆样本记录长度,具有 MultiView Zoom 功能,可实现快速导航
    zui快的波形捕获速率,每个通道的zui大值 >300,000 wfms/s
    具有用于高速串行设计和一致性测试的专用配置的数字串行分析仪型号


    探头jian端的增强带宽扩展到支持多个带宽步骤以实现高级信号完整性。
    Pinpoint 触发,具有 1400 多种组合,几乎可以解决任何触发情况

    高达 3.125 Gbps 的独特串行码型触发和用于隔离码型相关效应的 8b/10b 标准协议触发和高达 6.25 Gbps 的 NRZ 串行测试码型触发
    PCI Express、串行 ATA、FB-DIMM、SAS、光纤通道、IEEE1394b、RapidIO、XAUI、HDMI、DVI、以太网、USB 2.0 的串行数据分析和一致性

    用于发送器通道嵌入或去嵌入和接收器均衡仿真的高速串行数据链路分析
    zui受欢ying的抖动、时序和眼图分析包
    DDR内存总线分析
    12.1 英寸 业内zui大的 XGA 触摸屏显示器
    事件搜索和标记以促进事件关系的理解
    MyScope 自定义窗口和鼠标右键单击菜单可实现卓yue的效率
    带有 Microsoft Windows XP 操作系统的 OpenChoice 软件支持内置网络和扩展分析
    应用
    信号完整性、抖动和时序分析
    复杂设计的验证、调试和表征
    针对电信和数据通信行业标准的串行数据流调试和一致性测试
    瞬态现象研究
    光谱分析


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